Сложные инструменты химического анализа становятся доступными для использования в полевых условиях. С 2011 года рентгеновские флуоресцентные приборы доступны в портативных моделях, а также в лабораторных установках. Данные, полученные с помощью этих инструментов, полезны только в том случае, если данные интерпретируемы. XRF широко используется в геологическом анализе, переработке и восстановлении окружающей среды. Основы интерпретации данных XRF включают рассмотрение сигналов, возникающих в образце, артефактов прибора и физических явлений. Спектры данных XRF позволяют пользователю интерпретировать данные качественно и количественно.
Постройте данные XRF на графике зависимости интенсивности от энергии. Это позволяет пользователю оценивать данные и быстро наблюдать наибольшие процентные элементы, присутствующие в образце. Каждый элемент, который дает сигнал XRF, появляется на уникальном энергетическом уровне и является характеристикой этого элемента.
Обратите внимание, что вы будете строить графики интенсивности только для линий, которые дают линии K и / или L. Эти линии относятся к движению электронов между орбиталями внутри атома. Органические образцы не будут иметь никаких линий, потому что испускаемые энергии слишком малы для передачи по воздуху. Элементы с низким атомным номером имеют только K линий, потому что энергии L линий также слишком малы, чтобы их обнаружить. Элементы с высоким атомным номером имеют только L-линии, поскольку энергии K-линий слишком велики для обнаружения из-за ограниченной мощности портативных устройств. Все остальные элементы могут давать ответы как для K, так и для L строк.
Измерьте соотношение линий K (альфа) и K (бета) для элементов, чтобы подтвердить, что они находятся в соотношении 5 к 1. Это соотношение может незначительно отличаться, но типично для большинства элементов. Разделение пиков в линиях K или L обычно составляет порядка нескольких кэВ. Соотношение для линий L (альфа) и L (бета) обычно составляет 1 к 1.
Используйте свои знания образца и спектров, чтобы определить, есть ли совпадение спектров от аналогичных элементов. Спектры двух элементов, которые дают отклики в одной и той же области энергии, могут перекрывать друг друга или изменять кривую интенсивности в этой области.
Примите во внимание разрешение вашего полевого анализатора. Инструменты более низкого разрешения не могут разрешить два соседних элемента в периодической таблице. Различия между уровнями энергии этих двух элементов могут размываться вместе с инструментами с низким разрешением.
Устраните сигналы, которые являются инструментальными артефактами от спектров. Эти сигналы относятся к сигналам, которые возникают из-за артефактов в конструкции прибора или могут быть связаны с конструкцией этого конкретного прибора. Эффекты обратного рассеяния образца обычно вызывают очень широкие пики в спектре. Это типично для образцов с низкой плотностью.
Найдите и удалите из рассмотрения любые случаи пиков Рэлея. Это группа пиков низкой интенсивности, которые часто встречаются в плотных образцах. Чаще всего эти пики появляются на конкретном инструменте для всех образцов.